-
1 flaw density
плотность "слабых мест" (в окисной плёнке, т.е. количество слабых мест или дефектов на единицу поверхности исследуемого образца)Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > flaw density
-
2 scanning transmission electron microscopy
Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > scanning transmission electron microscopy
-
3 электронно-зондовый микроанализ
(EPMA)Электронно-зондовый микроанализФизические методы исследования и локального анализа поверхности твердых тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). Пучки электронов получают с помощью электронной пушки - вакуумного устройства, обычно диода, в котором электроны вылетают из катода благодаря термоэлектронной эмиссии и ускоряются электрическим полем. Фокусировку пучков осуществляют электронными линзами, создающими необходимые электрические и магнитные поля. В методе используют первичные медленные (с энергией Е0 10-103 эВ) и быстрые (Е0 103-106 эВ) электроны. После взаимодействия пучка первичных электронов с поверхностью исследуемого образца можно регистрировать упруго или неупруго рассеянные электроны, вторичную электронную эмиссию, эмиссию десорбированных атомов или ионов, электромагнитное излучение в рентгеновской или оптической области, наведенный в образце электрический ток или ЭДС.Russian-English dictionary of Nanotechnology > электронно-зондовый микроанализ
-
4 electron probe microanalysis
(EPMA)Электронно-зондовый микроанализФизические методы исследования и локального анализа поверхности твердых тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). Пучки электронов получают с помощью электронной пушки - вакуумного устройства, обычно диода, в котором электроны вылетают из катода благодаря термоэлектронной эмиссии и ускоряются электрическим полем. Фокусировку пучков осуществляют электронными линзами, создающими необходимые электрические и магнитные поля. В методе используют первичные медленные (с энергией Е0 10-103 эВ) и быстрые (Е0 103-106 эВ) электроны. После взаимодействия пучка первичных электронов с поверхностью исследуемого образца можно регистрировать упруго или неупруго рассеянные электроны, вторичную электронную эмиссию, эмиссию десорбированных атомов или ионов, электромагнитное излучение в рентгеновской или оптической области, наведенный в образце электрический ток или ЭДС.Russian-English dictionary of Nanotechnology > electron probe microanalysis
См. также в других словарях:
ANSI FL1-2009 — ANSI/NEMA FL1 2009 стандарт описывающий методы измерения основных характеристик ручных фонарей, налобных фонарей и прожекторов, дающих направленный свет. Стандарт определяет методы измерения таких характеристик как общий световой поток,… … Википедия
Сфокусированный ионный пучок — Сфокусированный (фокусированный) ионный пучок (СИП или ФИП) (англ. Focused ion beam (FIB)) широко используемая методика в материаловедении для локального анализа, н … Википедия
РЕНТГЕНОГРАММА — зарегистрированное на фотоплёнке (фотопластинке) изображение объекта, возникающее в результате вз ствия с ним рентгеновского излучения. При таком вз ствии может происходить поглощение, отражение или дифракция рентгеновских лучей. Пространств.… … Физическая энциклопедия
ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ — ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, совокупность методов исследования с помощью электронных микроскопов микроструктур тел, их локального состава и локализованных на поверхностях или в микрообъемах тел электрических и магнитных полей. На первом этапе… … Энциклопедический словарь
МАГНИТОСТАТЙЧЕСКИЕ ВОЛНЫ — медленные эл. магн. волны (с фазовой скоростью v ф< с), сопровождающие колебания спинов в магнитоупорядоченном веществе. Обычно в приближении M. в. рассматривают ДВ колебания спинов, в динамике к рых влиянием обменных взаимодействий можно… … Физическая энциклопедия
сканирующая электронная микроскопия — Термин сканирующая электронная микроскопия Термин на английском scanning electron microscopy Синонимы растровая электронная микроскопия Аббревиатуры СЭМ, SEM, РЭМ Связанные термины микроскоп, микроскопия, электронный микроскоп Определение… … Энциклопедический словарь нанотехнологий
Центр перспективных технологий — НПП Центр перспективных технологий Тип ЗАО Год основания 1990 Расположение … Википедия
РАСТРОВЫЙ ПРОСВЕЧИВАЮЩИЙ МИКРОСКОП — РАСТРОВЫЙ ПРОСВЕЧИВАЮЩИЙ МИКРОСКОП, разновидность ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА, дающий сильно увеличенное изображение поверхности исследуемого образца. Этот микроскоп снабжен миниатюрным металлическим пробником на подвижной ручке, который подводят… … Научно-технический энциклопедический словарь
ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — вакуумный электронно оптич. прибор для наблюдения и фотографирования многократно увеличенного (до 106 раз) изображения объектов, полученного с помощью пучка электронов, ускоренных до больших энергий (30 100 кэВ и более). Для фокусировки… … Большой энциклопедический политехнический словарь
Спектральная аппаратура рентгеновская — аппаратура, в которой Рентгеновские лучи возбуждаются в исследуемом веществе, разлагаются в спектр и регистрируются. Прецизионная С. а. р. служит для исследования тонкой структуры рентгеновских спектров (См. Рентгеновские спектры),… … Большая советская энциклопедия
ГОСТ 16865-79: Аппаратура для рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализов. Термины и определения — Терминология ГОСТ 16865 79: Аппаратура для рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализов. Термины и определения оригинал документа: 6. Абсорбционный рентгеновский спектрометр Определения термина из разных документов: Абсорбционный… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
